Diferența dintre AFM și STM Diferența dintre
AFM se referă la Microscopul Forței Atomice și STM se referă la Microscopul de Tunel de Scanare. Dezvoltarea acestor două microscoape este considerată o revoluție în domeniile atomice și moleculare.
Când vorbești despre AFM, captează imagini precise mutând un vârf de dimensiune nanometric pe suprafața imaginii. STM captează imagini utilizând tuneluri cuantice.
Din cele două microscoape, a fost primul care a fost dezvoltat de Microscopul de scanare prin tunel.
Spre deosebire de STM, sonda face un contact direct cu suprafața sau calculează legătura chimică incipientă în AFM. Imaginile STM se calculează indirect prin calcularea tunelului cuantic de grad între sonda și eșantion.
O altă diferență care se poate observa este că vârful din AFM atinge suprafața atingând ușor suprafața, în timp ce în STM vârful este ținut la o distanță scurtă de suprafață.
Spre deosebire de STM, AFM nu măsoară curentul de tunel, ci doar măsoară forța mică dintre suprafață și vârf.
De asemenea, sa observat că rezoluția AFM este mai bună decât STM. Acesta este motivul pentru care AFM este utilizat pe scară largă în nano-tehnologie. Când vorbim despre dependența dintre forță și distanță, AFM este mai complexă decât STM.
Când scanarea microscopului de tunel este în mod normal aplicabilă conductorilor, microscopul Forței Atomice este aplicabil atât conductorilor, cât și izolatorilor. AFM se potrivește bine cu medii lichide și gaze, în timp ce STM funcționează numai în vid înalt.
În comparație cu STM, AFM oferă o măsurare a înălțimii directe mai înalte a topografiei și caracteristici superioare ale suprafeței.
Sumar
1. AFM captează imagini precise prin deplasarea unui vârf de dimensiuni nanometrice peste suprafața imaginii. STM captează imagini utilizând tuneluri cuantice.
2. Sonda face un contact direct cu suprafața sau calculează legătura chimică incipientă în AFM. Imaginile STM se calculează indirect prin calcularea tunelului cuantic de grade între sonda și proba.
3. Vârful în AFM atinge suprafața atinge ușor suprafața, în timp ce în STM, vârful este ținut la o distanță scurtă de suprafață.
4. Rezoluția AFM este mai bună decât STM. Acesta este motivul pentru care AFM este utilizat pe scară largă în nano-tehnologie.
5. Atunci când scanarea microscopului de tunel este în mod normal aplicabilă conductorilor, microscopul Forței Atomice este aplicabil atât conductorilor cât și izolatorilor.
6. AFM se potrivește bine cu medii lichide și gaze, în timp ce STM funcționează numai în vid înalt.
7. Dintre cele două microscoape, microscopul pentru scanarea tunelului a fost primul care a fost dezvoltat.
